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spi錫膏測試儀 s8030系列
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編號 : s8030系列
功能 : 檢測錫膏
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單軌.jpg


超高精度單軌高速三維錫膏檢測系統

s8030系列

◆ 單軌高速三維錫膏檢測系統

◆ PSLM PMP 可編程相位輪廓調制測量技術

◆ 檢測項目:體積,面積,高度,XY偏移,形狀

◆ 檢測不良類型:漏印,多錫,少錫,連錫,偏移,形狀不良

◆ 最小檢測元件:01005(英制)

◆ XY定位精度:1um Grating ruler

◆ 重復性精度:高度<1um(4sigma);面積/體積<<1%(4sigma)

◆ 460x460mm 檢測面積

◆ 超高幀數高精度工業相機

◆ 檢測速度:0.3秒/FOV

◆ Mark點識別:0.5秒/個

◆ 最大檢測高度:+/-550um (+/-1200um為選件)

◆ RGB Tune專利技術

◆ D-Lighting專利技術

◆ 動態仿形功能配合靜態防翹曲功能

◆ 條碼識別功能配合三點照合功能

◆ 印刷機全閉環控制功能

◆ 貼片機Badmark傳輸功能

◆ 接入IMS系統功能

◆ 操作系統:Windows 7 Professional (64 bit)

◆ 五分鐘編程,一鍵式操作

◆ SPC過程工藝控制


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