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SAKI 雙軌AOI光學檢測儀 BF-10D
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編號 : BF-10D
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SAKI   2D 光學外觀自動檢查機(AOI)
SAKI光學檢測設備2D AOI ,采用其獨自開發的線性掃描技術 ,利用其先進獨創的線性攝像系統與完全同軸垂直落射照明相結合,通過簡易的機構,實現了高速、高精度、高可靠性的檢查,是在線光學檢查設備中最佳的解決方案。

SAKI 2D AOI得益于線性掃描的設計理念,實現了緊湊的機身設計,無論是單軌還是雙軌都以同樣的裝置寛度,實現了單位面積內最高生產率。卓越的線性掃描設計方式,使得裝置在運行中沒有任何振動,保證了設備的高精度性,也鑄就了設備極低的故障率。

SAKI 獨自開發的線掃描技術
SAKI 線掃描技術,是快速地進行全基板的掃描,是賽凱智能測試設備的基礎技術。賽凱智能采用線性照相機的攝像方式,實現了快速的檢查。

其他品牌 AOI 通過一般的測試設備所采用的分段拍攝方式,根據零部件數,基板尺寸改變檢查工作,如果進行更細微的檢查,則檢查時間會大幅度增大。

SAKI 同軸照明無陰影檢測

完全同軸落射照明是賽凱智能的獨自技術,是在基板全部位置上,對于檢查部件從正上方照射同軸光的技術。完全同軸落射照明,不受相鄰零部件大小和高低的影響,使得 SAKI 機器能夠捕捉到焊端任意角度完全無陰影的影像。


SAKI 高速線性掃描 2D AOI
1)SAKI 通過高精度大口徑遠心透鏡光學系統,結合豐富的算法和獨創的完全同軸落射照明,不會漏掉任何檢查對象。
2)SAKI 高解析度線性掃描 AOI,可用于任何高速生產線,實現爐前、爐后、綜合檢查的全自動光學檢測機。

3)SAKI 以其豐富的軟件支持系統,滿足顧客的遠程調試、一機多聯、條碼追索、MES接入,等各種需求,保護顧客的長遠投資。

                                技術規格

機器型號BF-Planet-X ⅡBF-Frontier ⅡBF-Tristar ⅡBF-10D
裝置特性單面掃描測試
M 基板,最小元件 01005
單面掃描測試
LL 基板,最小元件 0201
雙面掃描同時測試
M 基板,最小元件 01005
雙軌、單面掃描測試
M~L 基板,最小元件 01005
分辨率10 um18 um / 9 um10 um10 um
基板尺寸60 x 50 ~ 330 x 250 mm60 x 50 ~ 500 x 460 mm60 x 50 ~ 330 x 250 mm單軌道 : 60 x 50 ~ 330 x 460 mm
雙軌道 : 60 x 50 ~ 330 x 250 mm
基板翹曲±2 mm±2 mm±1 mm±2 mm
零部件高度上面 : 40 mm 下面 : 40 mm上面 : 40 mm 下面 : 40 mm上面 : 40 mm 下面 : 30 mm上面 : 40 mm 下面 : 40 mm
圖像掃描時間 (最大尺寸基板)約5秒約5秒約5秒約8.5秒
主要的檢查項目零部件的有無,位置偏差,橫側站立, 縱站立,表里反轉,極性反轉,橋接,
異物粘著,沒有焊錫,焊錫少,引腳漂浮, 芯片漂浮,圓角異常
基板厚度0.6 ~ 3.2 mm
照相機CCD 線性感應器照相機
照明LED 同軸落射照明
可以連接系
統的選項
BF-Editor
BF-RP1
BF-Monitor
BF-WebTracerII
2D 條形碼識別功能
OK/NG信號輸出
涂上防濕劑檢查
設備外形尺寸 W x D x H600 x 915 x 1270 mm850 x 1340 x 1230 mm850 x 1295 x 1130 mm850 x 1360 x 1380 mm



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